A63.7069 Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, Std. SEM, 6x~600000x

Korte beschrijving:

  • 6x~60000x Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, Std. SEM
  • Opwaardeerbare LaB6, röntgendetector, EBSD, CL, WDS, coatingmachine en enz.
  • Multimodificatie EBL, STM, AFTM, Heatign Stage, Cryo Stage, Tensile Stage, SEM+Laser en enz.
  • Automatische kalibratie, automatische detectie van defecten, lage kosten voor onderhoud en reparatie
  • Eenvoudige en gebruiksvriendelijke bedieningsinterface, allemaal bestuurd door muis in Windows-systeem
  • Minimum bestelhoeveelheid:1

–>


Product detail

Productlabels

A63.7069_01.jpg

product beschrijving
A63.7069 Wolfraamgloeidraad Scanning elektronenmicroscoop, Soa. SEM
Resolutie 3nm@30KV(SE); 6nm@30KV (BSE)
Vergroting Negatieve vergroting: 6x~300000x; Schermvergroting: 12x~600000x
Elektronenkanon Wolfraamverwarmde kathode-pre-gecentreerde wolfraamgloeidraadpatroon
Versnellingsspanning 0~30KV
Lenssysteem Elektromagnetische lens met drie niveaus (taps toelopende lens)
Objectief diafragma Molybdeen diafragma instelbaar buitenvacuümsysteem
Specimenstadium Vijf assen fase
Reisbereik X(Automatisch) 0~80mm
J(Automatisch) 0~60mm
Z (handmatig) 0~50mm
R (handmatig) 360º
T (handmatig) -5º~90º
Maximale monsterdiameter 175mm
Detector SE: hoogvacuüm secundaire elektronendetector (met detectorbescherming)
BSE: Semiconductor Four Segmentation Back Scattering Detector
CCD
Wijziging Stage-upgrade;EBL;STM;AFM;Verwarmingsfase;Cryofase;Trekfase;Micro-nano-manipulator;SEM+coatingmachine;SEM+laser
Accessoires CCD, LaB6, Röntgendetector (EDS), EBSD, CL, WDS, Coatingmachine
Vacuüm systeem Turbo Moleculaire Pompen; Rotatiepomp
Elektronenstraalstroom 10pA~0.1μA
pc Aangepast Dell werkstation

A63_05.jpg

A63_06.jpg

A63_07.jpg

A63_08.jpg

A63_09.jpg

A63_10.jpg

A63_10_02.jpg

Voordeel en gevallen:

Scanning-elektronenmicroscopie (sem) is geschikt voor het waarnemen van de oppervlaktetopografie van metalen, keramiek, halfgeleiders, mineralen, biologie, polymeren, composieten en eendimensionale, tweedimensionale en driedimensionale materialen op nanoschaal (secundair elektronenbeeld, terugverstrooid elektronenbeeld). Het kan worden gebruikt om de punt-, lijn- en oppervlaktecomponenten van microregio te analyseren. Het wordt veel gebruikt in aardolie, geologie, mineraalveld, elektronica, halfgeleiderveld, geneeskunde, biologieveld, chemische industrie, polymeermateriaalveld, strafrechtelijk onderzoek van openbare veiligheid, landbouw, bosbouw en andere gebieden.A63_13.jpg

A63_14.jpg

A63_15.jpg

bedrijfsinformatie

_02_01.jpg

OPTO-EDU, als een van de meest professionele fabrikanten en leveranciers van microscoop in China, onze submerk CNOPTEC-serie hoogwaardige biologische, laboratorium-, polariserende, metallurgische, fluorescerende microscopen, CNCOMPARISON-serie forensische microscoop, A63-serie SEM-microscoop en .49 serie digitale camera's, LCD-camera's zijn erg populair op de wereldmarkt.

_02_03.jpg

_02_04.jpg


  • Vorige:
  • De volgende:

  • Schrijf hier uw bericht en stuur het naar ons