|
A13.1104 Specificatie metallurgische microscoop:
|
|
Hoofd
|
Compensatie Gratis Trinoculaire, Helling van 30 graden, 50mm-75mm
|
| Oculair |
Breedveld WF10X/25mm |
| Breedveld WF10X/20mm met vizier 0.1mm |
| oneindigheid Doelstellingen plannen |
Infinity Plan-doelstellingen Helder en donker veld met lange werkafstand |
|
Lange werkafstand 29,4 mm PL L5X/0.1BD
|
|
Lange werkafstand 16 mm PL L10X/0,25 BD
|
|
Lange werkafstand 10,6 mm PL L 20X/0.40 BD
|
|
Lange werkafstand 5,4 mm PL L40X/0.60 (veer) BD
|
|
Flashboard-filter
|
Blauw filter
|
| Groen filter |
|
Neutraal filter
|
|
Focussysteem
|
Coaxiale grove en fijne scherpstelling met tandheugelmechanisme; Fijne scherpstelschaalwaarde 0,002 mm.
|
|
neusstuk
|
Viervoudig met DIC-aansluiting
|
| Fase |
Dubbellaags mechanisch (maat 189 mm x 160 mm, bewegingsbereik: 80 mm x 50 mm) |
|
condensor
|
ABBE NA1.25Condensator met irismembraan en filter
|
| Verlichting |
Transmissie Verlichting |
| EPI-verlichting: Apertrue Iris Diafragma en Field Iris Diafragma |
| Lichtbron |
12V / 50W, AC 85V-230V halogeenlamp, instelbare helderheid |
| Polariserend apparaat |
Analyzer 360° draaibaar, polariseren & analyzer kan in/uit het optische pad worden bewogen |
| Controletool |
0,01 mm micrometer |
